安徽XRD物相分析检测-半导体XRD检测机构

xrd物相分析检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

如何在origin上标记xrd图上的星号

1、选中卡片，xrd物相分析检测机构，然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息，从中可以看到晶面间距d，晶面指数hkl以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export，可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。

2、从txt中找到标准谱图所需要的信息：2 theta和i(f)值，xrd物相分析检测哪里可以做，然后将其copy到origin里面，设置2theta 为x轴数据，i(f)为y轴数据，如图2所示

3、选中a(x1)和b(y1)做折线图，并对谱图进行优化线粗细：3.0，类型：b-spline; 坐标轴线粗细：3.0，字体大小：28，得到zno的xrd谱图

4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y，添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content， 将d(y2)添加为layer content

5、双击图层2中所出现的折线图，在弹出的plot o details菜单中，将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项，勾选vertical，同时将线宽调整为3；再---symbol选项，将size改为0

6、调整图层2的横坐标范围，使横轴范围与图层1一致；调整图层2的纵坐标范围，安徽xrd物相分析检测，让标准卡片处于适合的位置；美化谱图，然后在图中注明标准卡片的编号